精密测控与系统

作者: 董永贵

出版社: 清华大学出版社

出版日期: 2005-09-01

电子书 暂不销售 定价:69.8 纸书价格¥39.30,点此比价
  • 收藏

  • 加书架

  • 引用

简介

本书以系统的观点,阐述了现代精密仪器设计中的控制理论、测试技术和设计方法。本书内容新颖、实用性强。 本书共分9章: 导论、系统的数学模型、传感器与测试系统、信号调理、图像处理技术、微弱信号检测技术、数字控制系统、计算机测控系统、现场总线技术与基于Internet的远程测控系统。 本书可供高等工科院校测控技术与仪器、电子精密机械、机电一体化及光学仪器等专业的师生使用,也可供从事精密仪器与机械及微纳米机电系统的研究、设计、制造、使用和调修的工程技术人员学习和参考。

更多出版物信息
  • 版权: 清华大学出版社
  • 出版: 2005-09-01
  • 作者:董永贵
  • 更新: 2022-08-12
  • 书号:9787302114604
  • 中图:TH.172
  • 学科:
    工学
    机械工程